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晶体管图示仪 XJ4810 / XJ4810A

产地: 上海
尺寸: 32×22×40cm
重量: 17kg

说明书

XJ4810型/XJ4810A型半导体管特性图示仪采用示波管显示半导体器件的各种特性曲线，并测量其静态参数。本仪器具有二簇曲线显示，双向集电*扫描电路，可以对被测半导体器件的特司长进行对比分析，便于对管或配件配对。本仪器IR测量达200nA/div，配备扩展装置后，VC可达3KV；可测试CMOS及TTL门电路传输特性；可对场效应管进行配对或对管测试；可测试三端稳压管特性。

XJ4810

XJ-4810型半导体特性图示仪，是一种用示波管显示半导体器件的各种特性曲线，并可测量其静态参数的测试仪器。

1.1 本仪器主要由以下几个部分组成：

1.1.1 Y轴放大器及X轴放大器。

1.1.2 阶梯信号发生器

1.1.3 集电*扫描发生器

1.1.4 主电源及高压电源部分

1.2 本仪器是继JT-1后的开发产品，它除了继承JT-1的优点外，作了较大改进与提 高，它与其他半导体管特性图示仪相比，具有以下特点：

1.2.1 本仪器采用全晶体管化电路、尺寸小、重量轻。

1.2.2 增设集电*双向扫描电路及装置，能同时观察二*管的正反向输出特性曲线、简化测试手续。

1.2.3 配有双簇曲线显示电路，对于中小功率晶体管各种参数的配对，尤为方便。

1.2.4 本仪器专为工作于小电流*b晶体管测试作了*，*小阶梯电流可达0.2μA/级

1.2.5 本仪器还专为测试二*管的反向漏电流采取了适当措施，使测试的IR达20nA/div。

1.2.6 本仪器配上它的扩展装置—XJ27100场效应管配对测试台可对国内外各种场效应对管和单管进行比较测试。

1.2.7 本仪器配上它的扩展装置—XJ27101数字集成电路电压传输特性测试台，可测试CMOS，TTL数字集成电路的电压传输特性。

主要技术指标

2.1 Y轴偏转因数

集电*电流范围（Ic）10μA/div-0.5A/div 分15档，误差不*过±3%。

二*管反向漏电流（IR）0.2μA/div-5μA/div 分5档。

2μA/div-5μA/div 误差不*过±3%。

0.2μA/div、0.5μA/div、1μA/div 误差分别不*过±20%、±10、±5%

基*电流或基*源电压 0.05V/div 误差不*过±3%。

外接输入 0.05V/div 误差不*过±3%。

偏转倍率 ×0.1 误差不*过±（10%+10nA）。

2.2 X轴偏转因数

集电*电压范围 0.05V/div—50V/div 分10档 误差不*过±3%。

基*电压范围 0.05V/div—1V/div 分5档 误差不*过±3%。

基*电流或基*源电压 0.05V/div 误差不*过±3%。

外接输入 0.05V/div 误差不*过±3%。

2.3阶梯信号

阶梯电流范围： 0.2μA/级-50mA/级 分17档

1μA/级-50mA/级 误差不*过±5%。

0.2μA/级、0.5μA/级 误差不*过±7%。

阶梯电压范围： 0.05V/级-1V/级 分5档 误差不*过±5%。

串联电阻： 0、10KΩ、1MΩ 分3档 误差不*过±5%

每簇级数； 1—10连续可调

每秒级数： 200

*性： 正、负 分2档

2.4 集电*扫描信号

峰值电压与峰值电流容量：各档级电压连续可调，其*大输出不低于下表要求（AC例外）

档级 198V 220V 242V
0—10V 档
0—9V 5A
0—10V 5A
0—11V 5A

0—50V 档
0—45V 1A
0—50V 1A
0—55V 1A

0—100V 档
0—90V 0.5A
0—100V 0.5A
0—110V 0.5A

0—500V 档
0—450V 0.1A
0—500V 0.1A
0—550V 0.1A

功耗限制电阻0—0.5MΩ分11档，误差不*过±10%

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